联系人及邮箱：贾彩虹  chjia@henu.edu.cn

放置地点：15号楼B座115室

设备简介：型号：岛津AXIS SUPRA+;生产厂家：株式会社岛津制作所;

仪器主要用途：

1.通过使用X射线入射固体样品表面并采集从样品表面产生的X射线光电子，可提供表面的元素成分、元素化学态信息;

2.可应用于分析无机化合物、合金、有机高分子化合物、能源电池材料、催化材料等，表征表面成分、表面缺陷、表面多层薄膜等;

3.利用分子束外延技术进行高质量薄膜样品的制备。

主要规格及技术指标：

1.X射线光源最大功率：600 W；
2.分析尺寸在15μm～大束斑(2mm×1mm椭圆)之间连续可调；
3.采用平行成像时分析尺寸连续可调，1-8000µm可调，调节步长1μm；
4.能量分辨率和灵敏度 (正常工作条件下)：对Ag 3d5/2峰，半高宽≤0.45 eV，计数率强度≥160Kcps；
5.视场大小：800×800～200×200 μm2，可实现10×10的大面积自动拼接成像；
6.像素：最大256×256；

7.能量扫描范围：-10～3200 eV；
8.最小扫描能量步长：1meV (UPS)/小于3 meV (XPS)；

9.最大可分析面积：75 mm×30 mm；更大的最大分析面积，可以分析更大的样品。